试题详情
- 单项选择题CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）
A、测定斜探头K值
B、测定直探头盲区范围
C、测定斜探头分辨率
D、以上全部
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