试题详情
单项选择题单晶片直探头接触法探伤中，与接触面十分接近的缺陷往往不能有效地检出这是因为（）。

A、近场干扰

B、材质衰减

C、盲区

D、选择范围

  • 关注下方微信公众号，在线模考后查看

热门试题